Sistema de Registro em Curso
Resumo de Avaliação do Teste de C2
Versão 1.0
Histórico da Revisão
Data |
Versão |
Descrição |
Autor |
28/Março/1999 |
1.0 |
Avaliação de Teste do Release R1.0
(desenvolvido na Iteração C2 - Release Inicial. |
C. Smith |
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Índice
- Objetivos
- Escopo
- Referências
- Introdução
- Cobertura do Teste
- Cobertura do Código
- Análise de Defeitos
- 7.1 Densidade de Defeitos
- 7.2 Tendência de Defeitos
- 7.3 Idade dos Defeitos
- Ações Sugeridas
- Diagramas
Resumo de Avaliação do Teste de C2
1. Objetivos
Este Relatório de Avaliação do Teste descreve os resultados dos testes de sistema do C-Registration
Release 1.0 em termos de cobertura de teste (tanto cobertura baseada em requisitos
quanto baseada em código) e análise de defeitos (isto é, densidade de defeitos). Esses
testes foram conduzidos durante a Iteração C2.
2. Escopo
Este Relatório de Avaliação do Teste é aplicado ao Release R1.0 do C-Registration
implementado na Iteração C2. Os testes conduzidos estão descritos no Plano de
Teste [5]. Este Relatório de Avaliação deve ser utilizado para o seguinte:
- Avaliar a capacidade de aceitação e apropriação do(s) comportamento(s)
de desempenho do sistema R1.0
- Avaliar a capacidade de aceitação dos testes
- Identificar aprimoramentos para aumentar a cobertura do teste e/ou sua qualidade
3. Referências
As referências aplicáveis são:
- Course Registration System Glossary, WyIT406, V2.0, 1999, Wylie College IT.
- Course Registration System Software Development Plan, WyIT418, V1.0, 1999, Wylie College IT.
- Course Registration System C2 Iteration Plan, WyIT500, V1.0, 1999, Wylie College IT.
- Course Registration System C2 Integration Build Plan, WyIT502, V1.0,
1999, Wylie College IT.
- Course Registration System Test Plan, WyIT501, V1.0, 1999, Wylie
College IT.
4. Introdução
Os casos de teste definidos no Conjunto de Teste foram executados seguindo a estratégia
de teste definida no Plano de Teste [5]. Os defeitos de teste foram registrados
e todos os defeitos de prioridade média, alta ou crítica estão atualmente designados ao
proprietário para correção.
A Cobertura de teste (consulte a seção 5.0 a seguir) em termos de cobertura dos casos
de uso e requisitos de teste definidos no Plano de Teste [5] foi 95% concluída. 10
casos de teste que envolvem a operação do sistema sob uma carga completa não foram
concluídos devido a erros no Software Simulador de Carga.
A cobertura de código foi medida utilizando-se o Rational Visual PureCoverage e está
descrita na seção 6.0.
A análise dos defeitos (conforme mostrada na seção 7.0 a seguir) indica que
a maioria dos defeitos encontrados tende a ser problemas grandes classificados como altos ou
críticos em termos de gravidade. A outra descoberta significativa foi que os componentes de software
que compõem a interface para o Sistema de Catálogo de Cursos continha um
número significativo de defeitos.
5. Cobertura do Teste
Todos os casos de teste, conforme definido no Conjunto de Teste, foram tentados. 10 testes não
foram concluídos devido a erros de software no Software Simulador de Carga. Do total
de casos de teste executados, 15 falharam.
Os resultados da
cobertura do teste são as seguintes:
Taxa de Casos de Teste Executados = 110/120 = 92%
Taxa de Casos de Teste com Êxito = 95/110 = 87%
A área de testes com a mais alta taxa de falha foi:
- Testes de desempenho envolvendo acesso ao Sistema de Catálogo de Cursos
- Testes de carga envolvendo acesso ao Sistema de Catálogo de Cursos
- Instalação do software cliente.
Detalhes adicionais sobre a cobertura de teste estão disponíveis utilizando-se o Rational RequisitePro
e a matriz de Casos de Teste.
6. Cobertura do Código
O Visual PureCoverage foi utilizado para medir a cobertura de código dos testes.
Taxa de LOC executada = 94,399 / 102,000 = 93%
Aproximadamente 93% do código foi executado durante o teste. Essa
cobertura excedeu a meta de 90%.
7. Análise de Defeitos
Esta seção resume os resultados da análise de defeitos gerada
utilizando o Rational ClearQuest. A seção 8 recomenda ações para tratar as
descobertas da análise de defeitos.
7.1 Densidade de Defeitos
Foram gerados dados sobre a densidade de defeitos utilizando os dados extraídos dos
relatórios do ClearQuest. A seção 9 deste documento inclui gráficos que
ilustram:
- Defeitos por Nível de Gravidade (crítica, alta, média e baixa)
- Origem do Defeito (o componente no qual o problema ou falha reside)
- Status do Defeito (registrado, designado, corrigido, testado e fechado).
O Gráfico de Defeitos por Nível de Gravidade mostra que 26 dos 36
defeitos registrados são classificados como altos ou críticos em termos de gravidade. Esse número
é considerado muito alto e, além disso, todos os defeitos altos e críticos devem
ser fechados para que o Release seja liberado.
O Gráfico de Origem do Defeito mostra uma porcentagem extraordinariamente alta de
defeitos associada aos componentes (c-abx, c-xxx) que formam a
interface para o Sistema de Catálogo de Cursos. Além disso, muitos defeitos residem
nos componentes de software que controlam a instalação do software
cliente.
O Gráfico de Status do Defeito mostra que os defeitos estão sendo
prontamente designados e trabalhados. A maioria dos defeitos foi verificada e
fechada.
Além disso, a análise dos defeitos altos e críticos mostrou que
muitos desses defeitos são devidos a tempos de resposta ruins no acesso ao
Sistema de Catálogo de Cursos durante condições de alta carga. (Apenas 50% dos
Casos de Teste de verificação dos requisitos de desempenho foram aprovados.)
7.2 Tendência de Defeitos
As tendências de defeitos (isto é, contagens de defeitos com o decorrer do tempo) são mostradas no Diagrama na
seção 9. Essa tendência mostra que a ocorrência de defeitos permanece alta.
Se a tendência continuar, poderão ser necessárias iterações adicionais para localizar
defeitos remanescentes no código.
7.3 Idade dos Defeitos
O Gráfico de Idade dos Defeitos (consulte a seção 9) ilustra que o tempo para fechar
alguns defeitos é de mais de 30 dias.
8. Ações Sugeridas
As ações recomendadas são as seguintes:
- Continuar a dedicar recursos de engenharia de sistemas ao problema de tempo de
resposta que envolve o Sistema de Catálogo de Cursos. Esse é um problema crítico pois o
Release R1.0 não pode ser liberado sem que os requisitos de desempenho sejam
atendidos.
- Revisar o planejamento principal para verificar se
uma quarta iteração pode ser incluída na Fase de Construção. A tendência de defeitos com o decorrer do tempo indica que muitos
defeitos permanecem no código e um ciclo de teste adicional é recomendado.
- Os componentes com uma alta taxa de defeitos devem ser inspecionados antes de
submeter novamente para um build. Isso inclui c-abx e c-xxx.
- A alta taxa de defeitos com gravidade Crítica e Alta pode indicar que
o design estava incompleto e não foi revisado apropriadamente. Planejar revisões de design adicionais para o
Release R2.0.
- Corrigir os problemas com o Software Simulador
de Carga e executar novamente os casos de teste associados.
- Investigar idade dos defeitos. Por que vários
defeitos estão demorando mais de 30 dias para ser fechados?
9. Diagramas
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